ZETA電位分析儀簡介：
Nicomp Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380ZLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有*技術(shù)的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優(yōu)勢。
技術(shù)優(yōu)勢
1、高靈敏度PMT檢測器；
2、可搭配不同功率光源；
3、準(zhǔn)確度高，接近樣品真實(shí)值；
4、可測試水相及有機(jī)相樣品的粒度及Zeta電位；
5、快速檢測，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；
6、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；
7、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求；
8、無需校準(zhǔn)；
9、復(fù)合型算法：
（1）高斯（Gaussion）正態(tài)粒度分布與*的Nicomp多峰分布算法自由切換
（2）頻率（Frequency）Zeta電位分析法與*的相位（Phase）分析法自由切換
10、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級；
（1）可自動稀釋模塊（選配）；
（2）自動進(jìn)樣系統(tǒng)（選配）；
（3）搭配多角度檢測器（選配）；
ZETA電位分析儀
http://www.labeach.cn/SonList-2245201.html
https://www.chem17.com/st478632/erlist_2245201.html