樣芯元素掃描分析
XRF Scanner樣芯元素掃描分析系統(tǒng)是由瑞典ITRAX公司在原有CoreScanner的基礎(chǔ)上研制生產(chǎn)，主要用于巖礦樣芯及沉積樣芯元素快速精確高靈敏度掃描分析，分為SC單樣芯掃描分析系統(tǒng)（每次裝載一個(gè)樣芯）和MC多樣芯（每次可裝載多個(gè)樣芯進(jìn)行分析）掃描分析系統(tǒng)兩個(gè)版本。
原理
XRF Scanner樣芯元素掃描分析系統(tǒng)采用XRF、數(shù)字X-射線密度成像和高分辨率數(shù)字光學(xué)成像技術(shù)，非破壞性測量，獲得樣品高分辨率的數(shù)碼圖像，然后利用系統(tǒng)軟件對所得圖像和元素信息進(jìn)行分析。
主要技術(shù)特點(diǎn)
與其他XRF掃描儀相比，Itrax XRF掃描儀為所有元素提供了單位時(shí)間和長度的XRF數(shù)據(jù)質(zhì)量，以及更高的樣品通量
可對樣芯一次性掃描分析從Na到U的所有元素及REE（稀土元素）濃度及分布
測量不使用氦氣，降低運(yùn)行成本
結(jié)實(shí)耐用，輕松完成24小時(shí)/7天無人值守操作
Itrax掃描儀是惟一一款可在一次掃描中確定所有元素的XRF掃描儀，同時(shí)為每個(gè)確定的元素提供數(shù)據(jù)
Itrax XRF是惟一一臺在連續(xù)樣品掃描中不會因降低或升高掃描頭而降低能力的XRF掃描儀
非接觸式分析與非常小的掃描頭相結(jié)合，使Itrax XRF掃描儀非常擅長處理樣品裂縫和斜坡——而不會破壞樣品和數(shù)據(jù)
對于XRF分析，Itrax每單位步長分析所需時(shí)間僅為1-5秒，即使是1毫米分辨率下的步長也是如此，與其它設(shè)備相比，具有*的高通量優(yōu)勢
Polyflat?X-光聚集技術(shù)，非接觸性元素掃描分析，Micro X-光束對每個(gè)點(diǎn)精確掃描分析并可進(jìn)行平均，如沿樣芯每厘米的平均濃度或整個(gè)樣芯的平均濃度
可分析元素相位分布及相關(guān)關(guān)系
具RGB高分辨率彩色鏡頭及LED光源、樣品條碼掃描器
軟件包功能非常強(qiáng)大
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