Keithley 吉時(shí)利4200A-SCS 參數(shù)分析儀

吉時(shí)利4200通常用于高分辨率的電壓、電流信號(hào)的測(cè)量，適合于中小功率設(shè)備，并可提供精密的電壓、電流的測(cè)量。儀器本身基于模塊化功能設(shè)計(jì)，每個(gè)模塊可完成相應(yīng)的測(cè)量任務(wù)。功率源模塊與前端放大器模塊可以測(cè)量基本的I-V、C-V，同時(shí)擁有較高的分辨率；再配置多通道開(kāi)關(guān)模塊，可實(shí)現(xiàn)I-V、C-V測(cè)量的輕松切換。超快速脈沖單元以及高壓脈沖配合前端放大器實(shí)現(xiàn)更多模式信號(hào)、信號(hào)分辨率以及測(cè)試信號(hào)之間的任意切換。由于模塊化設(shè)計(jì)，參數(shù)分析儀擁有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。在COMS晶體管、BJT、分立元器件、非易失性存儲(chǔ)器、材料、功率器件、可靠性等測(cè)試方面廣泛應(yīng)用。

 主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)

四象限操作

2 線或 4 線連接

瞬態(tài)波形捕獲模式

100 fA 測(cè)量分辨率

200 MSa/s，5 ns 采樣率

AC 阻抗測(cè)量 (C-V, C-f, C-t)

10 mHz - 10 Hz 低頻率電容測(cè)量

主要應(yīng)用

    MOSFET, BJT晶體管

    材料表征 

    非易失性存儲(chǔ)設(shè)備 

    電阻率系數(shù)和霍爾效應(yīng)測(cè)量

    NBTI/PBTI III-V族器件 

    失效分析 

    納米器件 

    二極管和pn聯(lián)結(jié) 

    太陽(yáng)能電池 

    傳感器 

    MEMS器件 

    電化學(xué) 

    LED和OLED

本公司回收以下品牌各類(lèi)儀器：

NI (美國(guó)國(guó)家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時(shí)利）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達(dá)）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛(ài)德萬(wàn)）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計(jì)) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達(dá)）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽(yáng)光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測(cè)）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛(ài)斯福）、GW INSTEK （固緯）

回收類(lèi)別：

網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、綜合測(cè)試儀、示波器、信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)分析儀、色彩分析儀、數(shù)字通訊測(cè)試儀、高頻信號(hào)源、頻率計(jì)、功率計(jì)、音頻分析儀、電源、數(shù)字源表、天饋線測(cè)試儀、光譜分析儀、噪聲系數(shù)分析儀、數(shù)字萬(wàn)用表、靜電計(jì)/高阻表、函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、LCR測(cè)試儀、電子負(fù)載、納伏表/皮安表、多用表校準(zhǔn)儀、廣播電視測(cè)試儀、高壓機(jī)/耐壓測(cè)試儀、NI機(jī)箱/模塊/控制器、 直流電源分析儀/模塊、數(shù)據(jù)采集器、邏輯分析儀、晶體管測(cè)試儀、調(diào)制度分析儀、藍(lán)牙測(cè)試儀、阻抗分析儀、視頻分析儀、光波測(cè)量系統(tǒng)、阻抗測(cè)試治具及附件、衰減器、探頭、RoHS/環(huán)保檢測(cè)儀、耦合板等等。